可程式 兩槽式冷熱沖擊測試箱

可程式 兩槽式冷熱沖擊測試箱

產(chǎn)品說明:

1、應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、電子產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗。

2、立式兩箱結(jié)構(gòu)，高低溫箱循環(huán)過程自動控制，停留及轉(zhuǎn)換時間可調(diào)，不銹鋼內(nèi)膽，多形式記錄，設(shè)有多種安全保護(hù)措施及裝置。

3、滿足 MIL-STD-810D方法 032、 GB2423.22-89Na、 GJB1505-86等。

可程式 兩槽式冷熱沖擊測試箱

溫 濕 度 電 熱 循 環(huán) 系 統(tǒng)

1.電熱循環(huán)系統(tǒng)：濕度采特殊防潮兼散熱設(shè)計,不銹鋼加長軸心循環(huán)馬達(dá)。

2.循環(huán)風(fēng)扇：耐高/低溫鋁合金多翼式循環(huán)風(fēng)扇。

3.導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計：導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計,有效提升溫、濕度分布均勻性。

4.溫度電熱器控制方式：平衡式調(diào)溫 P.I.D + P.W.M + S.S.R。

5.濕度電熱器控制方式：平衡式調(diào)濕 P.I.D + P.W.M + S.S.R 主副雙  型濕度電熱。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法