HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試

HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情
本HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應力測試）老化箱是一款專為評估芯片封裝可靠性而設計的精密測試設備。它通過模擬高溫、高濕及高壓環境，在短時間內加速材料老化與失效過程，是半導體行業進行產品壽命預測和質量控制的關鍵設備。

用途
主要用于集成電路、半導體芯片、封裝組件（如FC-BGA、SiP、WLCSP等）的可靠性驗證與失效分析。可執行JESD22-A110等標準HAST測試，評估封裝體在潮濕環境下的抗腐蝕能力、引線鍵合強度、材料界面穩定性等，顯著縮短傳統高溫高濕測試所需時間。

HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試

技術參數

• 溫濕度范圍：溫度105℃~142℃（常用130℃/140℃），濕度75%RH~100%RH（非飽和/飽和蒸汽）

• 壓力范圍：0.02MPa~0.3MPa

• 升溫時間：約40分鐘內從常溫升至142℃（空載）

• 內箱尺寸：常見定制容積20L~100L（標準型為50L）

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2.5%RH，壓力±1kPa

• 安全防護：超壓自動泄壓、缺水保護、過流保護、機械式安全閥

箱體結構與材質

• 外箱：采用優質冷軋鋼板，表面靜電噴涂，耐腐蝕。

• 內箱：全部采用SUS304不銹鋼板，無縫焊接，耐高溫高壓腐蝕。

• 保溫層：高性能玻璃纖維棉，確保熱效率與箱體表面低溫安全。

• 密封：雙道硅橡膠耐高溫柔性密封條，保證高壓下的密封性。

• 樣品架：不銹鋼多層可調支架，承重性強，易于存取。

產品特點

1. 高效加速：運用非飽和加壓蒸汽原理，較傳統THB測試效率提升數倍。

2. 精準控制：采用高精度溫濕度傳感器與PID+SSR控制系統，確保測試條件精確穩定。

3. 安全可靠：具備多重硬件與軟件安全聯鎖，門體帶壓力自鎖裝置，泄壓前無法開啟。

4. 人性化操作：大尺寸觸摸屏，圖形化界面，支持程序編輯、數據存儲與USB導出。

5. 低運行成本：優化設計的蒸汽發生系統與隔熱結構，耗水量與耗電量低。

風道系統
采用頂部水平送風、底部回風的科學循環風道。配置大功率長軸電機和多翼式離心風機，搭配耐高溫風輪，確保箱內溫濕度場高度均勻（均勻度可達±1℃以內）。風道與加熱器、加濕器集成設計，實現快速響應與穩定循環。

安裝與調試
設備為落地式，需放置于平整、通風良好的實驗室環境，預留散熱空間。用戶需準備符合要求的電源（通常為AC380V）和純水/去離子水水源。我司提供上門安裝、調試服務，并對用戶進行現場操作與日常維護培訓，確保設備即刻投入可靠使用。

售后服務
提供整機一年保修，關鍵部件（如控制器、傳感器）延保服務。全國主要城市設有服務網點，提供快速響應技術支持、定期巡檢與校準服務。終身提供備件供應與優惠的有償維修服務。